特點
- 精確距離、輪廓、邊緣測量的理想選擇
- 解析度:1 um
- 雷射裝置 (雷射二極體 650 nm IM)
- 校準數據輸出
- 乙太網介面(TCP)
- 乙太網供電(POE):12V-24V
- 帶有原始碼的簡易版軟體
技術規格
型號 |
TLE1-35-65 |
TLE1-58-122 |
TLE1-100-300 |
距離量測範圍 |
35~65 mm |
58~122 mm |
100~300 mm |
參考距離 |
50 mm |
90 mm |
200 mm |
測量範圍:高度(Z軸) |
35 mm |
65 mm |
58 mm |
122 mm |
100 mm |
300 mm |
測量範圍:寬度(X軸) |
17 mm |
24 mm |
23 mm |
40 mm |
30 mm |
90 mm |
光點規格/參考距離處 |
40 um × 20.5 mm |
60 um × 31.5 mm |
140 um × 60 mm |
雷射 |
650 nm Class 1M |
650 nm Class 2M |
650 nm Class 2M |
輸出 |
<3 mW |
<10 mW |
<10 mW |
影像感測器 |
CMOS (1280 x 1024 pixels) |
解析度:高度(Z軸) |
1 um |
3 um |
6 um |
非線性:高度 |
10 um |
25 um |
50 um |
解析度:寬度(X軸) |
24 um |
40 um |
80 um |
響應時間 |
33.34 ms用於完全讀出,或用於部分讀出則更快 |
測量模式 |
用於材料輪廓測量(孔徑尺寸、間隙、邊緣)或距離檢測 |
介面 |
RJ45 (乙太) – 10/100 Mbit |
通訊 |
TCP protocol、ICMP (ping) |
電源 |
乙太網供電,12 (150mA) to 24 VDC (80mA) |
外形尺寸/重量 |
100(W) × 70(H) × 25 (D) mm / 105 gf |
操作環境 |
0~50 ℃ |
標準配備 |
訊號線、數據應用軟體 |