特點

• 精確距離、輪廓、邊緣測量的理想選擇
• 解析度:1 um
• 雷射裝置 (雷射二極體 650 nm IM)
• 校準數據輸出
• 乙太網介面（TCP）
• 乙太網供電（POE）:12V-24V
• 帶有原始碼的簡易版軟體

技術規格

型號	TLE1-35-65		TLE1-58-122		TLE1-100-300
距離量測範圍	35~65 mm		58~122 mm		100~300 mm
參考距離	50 mm		90 mm		200 mm
測量範圍:高度(Z軸)	35 mm	65 mm	58 mm	122 mm	100 mm	300 mm
測量範圍:寬度(X軸)	17 mm	24 mm	23 mm	40 mm	30 mm	90 mm
光點規格/參考距離處	40 um × 20.5 mm		60 um × 31.5 mm		140 um × 60 mm
雷射	650 nm Class 1M		650 nm Class 2M		650 nm Class 2M
輸出	＜3 mW		＜10 mW		＜10   mW
影像感測器	CMOS (1280 x 1024 pixels)
解析度:高度(Z軸)	1 um		3 um		6 um
非線性:高度	10 um		25 um		50 um
解析度:寬度(X軸)	24 um		40 um		80 um
響應時間	33.34 ms用於完全讀出，或用於部分讀出則更快
測量模式	用於材料輪廓測量(孔徑尺寸、間隙、邊緣）或距離檢測
介面	RJ45 (乙太) – 10/100 Mbit
通訊	TCP protocol、ICMP (ping)
電源	乙太網供電，12 (150mA) to 24 VDC (80mA)
外形尺寸/重量	100(W) × 70(H) × 25 (D) mm / 105 gf
操作環境	0~50 ℃
標準配備	訊號線、數據應用軟體